使用 ICP-MS分析礦石參比物質(zhì)中的超痕量金屬
前言:地質(zhì)調(diào)查和采礦業(yè)在樣品數(shù)量、元素?cái)?shù)量、時(shí)間/成本限制和復(fù)雜基質(zhì)方面提出了高 分析要求。根據(jù)元素和濃度的范圍不同,一些樣品需要分析兩次:濃度較高的元素 采用 ICP-OES(電感耦合等離子體發(fā)射光譜)分析,而痕量元素采用 ICP-MS 測(cè)量。 對(duì)于這些樣品,單次分析可提高效率,并降低每個(gè)樣品的成本。盡管 ICP-MS 是一種 能夠測(cè)量所有必需痕量元素的技術(shù),但是巖石消解液中寬范圍的分析物濃度、高酸 濃度和高總?cè)芙夤腆w (TDS) 對(duì)這項(xiàng)技術(shù)提出了挑戰(zhàn)。
Agilent 7900 ICP-MS 包含三種關(guān)鍵技術(shù),專門設(shè)計(jì)用于提高 復(fù)雜、高基質(zhì)樣品分析的性能和速度。
包括:
1. 采用安捷倫集成樣品引入系統(tǒng)的不連續(xù)進(jìn)樣 (ISIS-DS) 技 術(shù)。不連續(xù)進(jìn)樣僅在實(shí)際測(cè)量過(guò)程中引入樣品,盡可能減 少儀器對(duì)樣品的暴露;同時(shí)對(duì)清洗耗費(fèi)的分析循環(huán)時(shí)間進(jìn) 行平衡。不連續(xù)進(jìn)樣也很快速,因?yàn)閿?shù)據(jù)采集與樣品提 升和清洗的時(shí)間相重疊,而其流速則不受限于霧化器或 ICP-MS 接口組件
2. 采用安捷倫超高基質(zhì)進(jìn)樣 (UHMI) 系統(tǒng)的氣溶膠稀釋技 術(shù)。在分析高基質(zhì)樣品時(shí),UHMI 使用優(yōu)化的等離子體條 件、樣品深度和氣溶膠稀釋,以顯著減少基質(zhì)效應(yīng),并 提高長(zhǎng)期穩(wěn)定性。UHMI 系統(tǒng)將氣溶膠稀釋的范圍擴(kuò)展 了 100 倍,可耐受的 TDS 水平最高可達(dá) 25%(比上一代 HMI 高 10 倍),這一基質(zhì)水平是傳統(tǒng) ICP-MS 系統(tǒng)可接受 限度的 100 倍[1]
3. 第四代八極桿反應(yīng)池系統(tǒng) (ORS4 ) 在氦氣碰撞模式(He 模 式)下運(yùn)行,能夠減少干擾,并擴(kuò)展動(dòng)態(tài)范圍。傳統(tǒng)上, 礦物實(shí)驗(yàn)室并未采用碰撞/反應(yīng)池 (CRC) 技術(shù)去除干擾, 而傾向于依靠數(shù)學(xué)上的干擾校正方法。這一決策背后的驅(qū) 動(dòng)因素是分析效率。CRC 模式依賴反應(yīng)氣體,在一組池 條件下,不適用于同時(shí)測(cè)量復(fù)雜基質(zhì)中的大量元素;而多 種池模式顯著增加了分析的測(cè)量時(shí)間。另外,與反應(yīng)模式 相比,He 模式的優(yōu)勢(shì)在于能夠普遍有效地避免所有多原 子干擾。因此,相比于無(wú)氣體方法,He 模式作為氣體模 式僅增加了少量額外的分析時(shí)間,卻增加了不少優(yōu)勢(shì),如 在干擾元素存在下獲得更出色的檢測(cè)限和更高的分析可信 度。He 模式還具有其他優(yōu)勢(shì),如將低質(zhì)量數(shù)高濃度元素 (Na、K、Ca、Mg 等)的響應(yīng)降低一個(gè)或多個(gè)數(shù)量級(jí), 從而將這些元素的線性范圍上限有效提升至數(shù)千 ppm。
在這種情況下,通常需要使用 ICP-OES 分析的元素可在 ICP-MS 中運(yùn)行,顯著降低每個(gè)樣品的分析成本。盡管 He 模式可以應(yīng)用于幾乎整個(gè)元素表,但這樣做將增加運(yùn)行時(shí) 間,因?yàn)樵?He 模式下需要的積分時(shí)間稍長(zhǎng)一些。因此, 在典型的采礦樣品中,只有那些容易受到多原子干擾的元 素才會(huì)在 He 模式(包括高能量 He 模式)下進(jìn)行分析
實(shí)驗(yàn)部分:標(biāo)準(zhǔn)品與樣品 標(biāo)準(zhǔn)品由儲(chǔ)備液在 3% HCl/2% HNO3 中進(jìn)行配制,并用超純水 稀釋得到。標(biāo)準(zhǔn)元素列于表 3 中。所有校準(zhǔn)元素在各自校準(zhǔn) 水平下的濃度如下:Hg 和 Au(0、0.1、1、5 和 10 ppb), Ca、Ti 和 Fe(0、10、100、500、1000 和 5000 ppb),其 余元素(0、1、10、50、100 和 500 ppb)。 如表 1 所示,樣品由 6 種磨碎的地質(zhì)有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) (CRMs) 組 成。首先,將 20 mL 75% 王水 (HCl:HNO3:H2O = 9:3:4) 加入裝 有 2 g 各種 CRM 的 PFA 消解瓶中。靜置 15–30 分鐘后,將 樣品瓶置于電爐上,并在 160–210 °C 下加熱 60–90 分鐘。 冷卻約 15 分鐘后,將樣品混合,然后轉(zhuǎn)移至 50 mL 聚丙烯自 動(dòng)進(jìn)樣器管中,并用去離子水將總重量調(diào)至 50 g,靜置。上 清液不經(jīng)過(guò)濾可直接分析。每個(gè)樣品重復(fù)配制 4 份。每批次 配制兩份空白。通過(guò)含 100 µg/L Rh 和 Ir 的在線內(nèi)標(biāo)溶液, 將丁醇 (1%) 加入所有標(biāo)準(zhǔn)品、樣品和空白中。研究表明,添 加有機(jī)碳可改善 As、Se 和 Te 等幾種關(guān)鍵元素的檢測(cè)限。此 外,丁醇提供了低質(zhì)量數(shù)內(nèi)標(biāo)(碳),而這個(gè)內(nèi)標(biāo)在本分析中 并不存在,因?yàn)樽畛R?jiàn)的低質(zhì)量數(shù)內(nèi)標(biāo) 6 Li 可能存在于礦物樣 品中。
儀器 配備標(biāo)準(zhǔn)鎳錐、MicroMist 玻璃同心霧化器和 UHMI 系統(tǒng)的 Agilent 7900 ICP-MS 用于所有測(cè)量。Agilent 7900 配備了安 捷倫集成樣品引入系統(tǒng) (ISIS),此系統(tǒng)用于不連續(xù)進(jìn)樣 (DS)。 UHMI 系統(tǒng)在穩(wěn)定模式下運(yùn)行。ORS4 在 He 模式下運(yùn)行,以此 減少多原子干擾,提高幾種元素的檢測(cè)限,并且*無(wú)需數(shù)學(xué) 干擾校正。它還可通過(guò)池中的離子散射降低 Ca 和 Fe 等低質(zhì) 量數(shù)元素的響應(yīng),從而擴(kuò)展它們的動(dòng)態(tài)范圍上限。儀器條件如 表 2a 和 2b 所示。
結(jié)果與討論 表 3 展示了性能系數(shù),包括儀器在線檢測(cè)溶液以及原始巖石樣品在范圍內(nèi)的校準(zhǔn)線性和方法檢測(cè)限(3σ,對(duì) DL 估 算值附近的標(biāo)準(zhǔn)品重復(fù)測(cè)定 10 次)。一些元素在無(wú)氣體模式 (即反應(yīng)池不加壓)下采集。He 模式適用于常量元素 Ca 和 Fe 以及那些通常需要數(shù)學(xué)校正來(lái)控制多原子干擾的元素(Ti、 V、Cr、Ni、Cu、As 和 Se)。
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